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徠卡顯微鏡
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DM2700P徠卡偏光顯微鏡憑借其專業(yè)的光學設計、精準的偏光系統(tǒng)及智能化功能，成為材料雙折射特性與晶體結構分析的理想工具。無論是地質樣本的快速鑒定，還是高分子材料的微觀力學研究，DM2700P均能提供高對比度、高分辨率的成像支持。
DM4 P徠卡偏光顯微鏡是一種具有特殊光學功能的顯微鏡。它可以通過旋轉偏振片或者樣品，觀察樣品在不同振動方向下的透光性變化，具有其眾多的優(yōu)點和技術特點。
徠卡偏光顯微鏡DM750P是一款專為??材料科學、地質學及晶體學研究??設計的高性能光學儀器，以其偏光成像技術和模塊化功能，成為實驗室中觀察各向異性樣品的理想工具。
偏光顯微鏡是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡。這種顯微鏡的載物臺是可以旋轉的，當載物臺上放入單折射的物質時，無論如何旋轉載物臺，由于兩個偏振片是垂直的，偏光顯微鏡里看不到光線，而放入雙折射性物質時，由于光線通過這類物質時發(fā)生偏轉，因此旋轉載物臺便能檢測到這種物體。
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